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        科技自立,告別“卡脖子”!日聯(lián)國產(chǎn)開管X-ray設(shè)備實(shí)現(xiàn)量產(chǎn),賦能芯片檢測降本提質(zhì)

        日聯(lián)科技 發(fā)表于2025/10/13 16:13:21 日聯(lián)科技開管射線源
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        據(jù)貝哲斯咨詢報(bào)告顯示,2024年全球半導(dǎo)體市場規(guī)模達(dá)到39337.08億元(人民幣),預(yù)計(jì)到2030年將達(dá)到84718.69億元。

        隨著制程工藝進(jìn)入納米級,芯片內(nèi)部層數(shù)增多且結(jié)構(gòu)愈加復(fù)雜,對X光的穿透能力提出更高要求。

        X射線憑借其高穿透性,可無損檢測內(nèi)部缺陷(如晶圓凸塊橋接、Wafer內(nèi)部異物雜質(zhì)、內(nèi)部連線斷裂等),成為不可替代的技術(shù)。

        開管射線源的核心技術(shù)長期被海外壟斷,高昂的采購與維護(hù)成本,嚴(yán)重?cái)D壓著國內(nèi)廠商的利潤空間。

        在上千次實(shí)驗(yàn)測試后,團(tuán)隊(duì)攻克了:高密度電子束精準(zhǔn)聚焦、兆瓦級熱載荷材料耐受性、多物理場耦合真空腔體設(shè)計(jì)等多項(xiàng)核心技術(shù)難題。

        成功研發(fā)出國內(nèi)首款開放式射線源,并實(shí)現(xiàn)產(chǎn)業(yè)化應(yīng)用,以納米級分辨率,完成我國在高端X射線源領(lǐng)域從技術(shù)追趕到全球并跑的跨越式突破。

        采用日聯(lián)自研160kV開放式微聚焦X射線源,超大幾何放大倍率,高清晰實(shí)時(shí)成像,輕松完成半導(dǎo)體產(chǎn)品爬錫高度、連錫、虛焊、漏焊、短路等封裝缺陷和空洞、裂紋等內(nèi)部結(jié)構(gòu)缺陷檢測。

        01 納米級"零容忍"智檢

        強(qiáng)穿透能力搭配高放大倍率,可輕松完成3D/系統(tǒng)級封裝、IC壓焊等工藝中多種類缺陷檢測,以及捕捉TGV(Through Glass Via)和TSV(Through Silicon Via)工藝中微小對象的纖細(xì)細(xì)節(jié)。

        >>>160kV超強(qiáng)穿透

        搭載自研160kV開放式微聚焦X射線源,輕松穿透厚密材質(zhì),適用于檢測高密度集成電路和第三代半導(dǎo)體(SiC、GaN)的內(nèi)部結(jié)構(gòu)缺陷。

        >>>2000X超級放大

        最高2000倍幾何放大倍率,結(jié)合微焦點(diǎn)X射線源,實(shí)現(xiàn)最小0.8μm高精度檢測,清晰呈現(xiàn)比頭發(fā)絲細(xì)100倍的芯片內(nèi)部結(jié)構(gòu),完成納米級缺陷分析。

        >>>  360°全方位檢測

        完整2.5D,360°全方位XY檢測,無死角解析隱藏在芯片底部的焊點(diǎn)空洞或互連橋接、斷裂等缺陷。

        02 AI賦能"零缺陷"智檢

        焊盤氣泡自動(dòng)檢測

        AI加持提升圖像質(zhì)量,標(biāo)配半導(dǎo)體自動(dòng)檢測算法,可實(shí)現(xiàn)單點(diǎn)0.8秒快速解析,釋放人力,檢測效率較傳統(tǒng)人工提升2000%

        超分圖像復(fù)原

        AI超分辨率圖像復(fù)原技術(shù),無差別去噪,輕松獲得高清檢測圖像。

        HDR圖像優(yōu)化

        全新的HDR,圖像亮度均衡,保留從最暗到最亮區(qū)域的細(xì)節(jié),突出關(guān)鍵結(jié)構(gòu),將芯片內(nèi)部結(jié)構(gòu)細(xì)節(jié)還原度提升30%。

        03 重構(gòu)人機(jī)協(xié)同新范式

        34寸全景曲面

        提供21:9超寬視域,全景視域覆蓋,可進(jìn)行多窗口操作,實(shí)現(xiàn)跨尺度數(shù)據(jù)聯(lián)動(dòng)

        雙搖桿協(xié)同操作

        雙搖桿控制多動(dòng)作操作,輕松完成產(chǎn)品多角度觀測。

        電動(dòng)升降鍵盤架

        按鈕控制鍵盤架自動(dòng)升降,輕松調(diào)整到合適的高度,滿足不同身高檢測員操作需求。

        防夾電控門

        按鈕一鍵自動(dòng)開合,具有防夾功能,輕松提升操作便捷性。

        經(jīng)過嚴(yán)苛產(chǎn)業(yè)化驗(yàn)證周期,AX9600在多個(gè)尖端生產(chǎn)基地實(shí)現(xiàn)部署,其突破性的百納米級缺陷追溯能力大幅提升先進(jìn)封裝工藝的檢測精度,推動(dòng)行業(yè)良率突破歷史性閾值。

        該設(shè)備成功扭轉(zhuǎn)高端檢測裝備長期依賴進(jìn)口的產(chǎn)業(yè)格局,帶動(dòng)國產(chǎn)設(shè)備市占率實(shí)現(xiàn)跨越式提升。

        市場驗(yàn)證表明,該創(chuàng)新產(chǎn)品不僅構(gòu)建起第三代半導(dǎo)體檢測的新標(biāo)準(zhǔn)體系,更形成顯著的商業(yè)價(jià)值轉(zhuǎn)化。

        隨著產(chǎn)品在集成電路和半導(dǎo)體領(lǐng)域的持續(xù)滲透,該設(shè)備已顯現(xiàn)出強(qiáng)勁的持續(xù)增長動(dòng)能,驅(qū)動(dòng)日聯(lián)價(jià)值進(jìn)階。目前,開管系列X射線檢測設(shè)備更多型號正在順利研發(fā)中,后續(xù)將陸續(xù)推出并實(shí)現(xiàn)產(chǎn)業(yè)化,相關(guān)設(shè)備家族將日益龐大。

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